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本发明涉及提供一种红外图像传感器晶圆芯片响应率测试系统及方法，本发明通过设置黑体组件进行多种层次温度的采集，同时通过获取红外图像传感器晶圆中芯片所有像素的响应率以及获取红外图像传感器晶圆中芯片的平均响应率，可以方便对晶圆上芯片进行晶圆响应率...
该专利属于苏州零度感知科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州零度感知科技有限公司授权不得商用。

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