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本技术公开一种AOI设备静电应用组件，涉及晶片辅助检测技术领域，其具体结构包括：工作台，安装于地面上；料筒，安装于工作台上，且料筒的一侧连通有下料口；振动盘，安装于工作台上，且振动盘上方与下料口相对应；运输轨道，安装于工作台上，且运输轨道的...
该专利属于扬州虹扬科技发展有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过扬州虹扬科技发展有限公司授权不得商用。

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