一种AOI设备静电应用组件制造技术

本技术公开一种AOI设备静电应用组件，涉及晶片辅助检测技术领域，其具体结构包括：工作台，安装于地面上；料筒，安装于工作台上，且料筒的一侧连通有下料口；振动盘，安装于工作台上，且振动盘上方与下料口相对应；运输轨道，安装于工作台上，且运输轨道的一端与振动盘的出口连通；转盘，活动安装于工作台上；静电吸附装置，安装于工作台上，且静电吸附装置的吸附端与运输轨道的另一端相对应；除静电装置，安装于工作台上，且除静电装置位于静电吸附装置远离运输轨道的一侧；拍摄机构，安装于工作台上，且拍摄机构位于除静电装置远离静电吸附装置的一侧；本技术解决了晶片在进行光学检测时容易脱离转盘的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及晶片辅助检测，尤其涉及一种aoi设备静电应用组件。

技术介绍

1、aoi的全称是自动光学检测，其基于光学原理对tft-cell及module裸露电极区域线路异常(因制程和不当操作导致的划伤而引起的线路open或short等缺陷)。

2、在对晶片进行检测，需要将晶片放置于转盘上进行检测，由于转盘的转动产生离心力，会导致部分晶片脱离转盘，造成浪费。

技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种aoi设备静电应用组件，解决了现有技术的晶片在进行光学检测时容易脱离转盘的技术问题。

2、本申请实施例公开了一种aoi设备静电应用组件，包括：

3、工作台，安装于地面上；

4、料筒，安装于所述工作台上，且所述料筒的一侧连通有下料口；

5、振动盘，安装于所述工作台上，且所述振动盘上方与所述下料口相对应；

6、运输轨道，安装于所述工作台上，且所述运输轨道的一端与所述振动盘的出口连通；

7、转盘，活动安装于所述工作台上；</p>

8、静电本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种AOI设备静电应用组件，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的AOI设备静电应用组件，其特征在于，所述转盘为玻璃转盘。

3.根据权利要求1所述的AOI设备静电应用组件，其特征在于，所述下料口的末端设置有向下延伸的缓速面。

4.根据权利要求1所述的AOI设备静电应用组件，其特征在于，所述运输轨道朝向所述静电吸附装置的一端设置有向下延伸的坡面，所述坡面位于所述转盘上方；

5.根据权利要求4所述的AOI设备静电应用组件，其特征在于，所述静电吸附装置与所述除静电装置之间的间隙为10-30cm。

6.根据权利要求1所述的AO...

【技术特征摘要】

1.一种aoi设备静电应用组件，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的aoi设备静电应用组件，其特征在于，所述转盘为玻璃转盘。

3.根据权利要求1所述的aoi设备静电应用组件，其特征在于，所述下料口的末端设置有向下延伸的缓速面。

4.根据权利要求1所述的aoi设备静电应用组件，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭静静，陈宏胤，贾健，
申请(专利权)人：扬州虹扬科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：