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本实用新型揭示了一种用于测量应变片的仪表，包括：外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测...
该专利属于上海高衡电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海高衡电子有限公司授权不得商用。

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