用于测量应变片的仪表制造技术

本实用新型专利技术揭示了一种用于测量应变片的仪表，包括：外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测应变片获得激励信号；自校验电阻、设置在所述外罩内，用于提供标准电阻值；ＭＣＵ控制单元、设置在所述外罩内，且连接所述模数转换器、所述交流激励电路、及所述自校验电阻，用于根据所述模数转换器提供的数字信号，结合所述交流激励电路提供的激励信号及所述自校验电阻提供的标准电阻值，得到所述待测应变片的阻值。本实用新型专利技术的有益效果在于：大大提高了反应速度和准确性，且成本较低。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量仪表，特别涉及一种用于测量应变片的仪表。
技术介绍
应变片是一种将被测件上的应变变化转换成为一种电信号的敏感器件。它是压阻 式应变传感器的主要组成部分之一。应变片应用最多的是金属电阻应变片和半导体应变片 两种。金属电阻应变片又有丝状应变片和金属箔状应 变片两种。通常是将应变片通过特殊 的粘和剂紧密的粘合在产生力学应变基体上，当基体受力发生应力变化时，电阻应变片也 一起产生形变，使应变片的阻值发生改变，从而使加在电阻上的电压发生变化。这种应变片 在受力时产生的阻值变化通常较小，一般这种应变片都组成应变电桥，并通过后续的仪表 放大器进行放大，再传输给处理电路(通常是A/D转换和CPU)显示或执行机构。应变片的阻值会随环境变化而变化，因此，需要对其组织进行测量。现有技术中， 用于测量应变片的电阻表，一般采用积分式结构，其精度及抗干扰能力较好，但是缺点是反 应速度教慢，在抛片过程中会造成一定的滞后，由于此类仪表大多不是泛用仪表，所以其为 了兼顾到不同量程的测量，在精度和速度方面，均有牺牲，同时测量应变片的电阻表又需要 有良好的长期稳定性和较好的温差表现，若同时满足以上要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量应变片的仪表，其特征在于，包括：外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测应变片获得激励信号；自校验电阻、设置在所述外罩内，用于提供标准电阻值；ＭＣＵ控制单元、设置在所述外罩内，且连接所述模数转换器、所述交流激励电路、及所述自校验电阻，用于根据所述模数转换器提供的数字信号，结合所述交流激励电路提供的激励信号及所述自校验电阻提供的标准电阻值，在小于１００ｍｓ的时间内，得到精度为０．０１Ω的所述待测应变片的阻值。

【技术特征摘要】
一种用于测量应变片的仪表，其特征在于，包括外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测应变片获得激励信号；自校验电阻、设置在所述外罩内，用于提供标准电阻值；MCU控制单元、设置在所述外罩内，且连接所述模数转换器、所述交流激励电路、及所述自校验电阻，用于根据所述模数转换器提供的数字信号，结合所述交流激励电路提供的激励信号及所述自校验电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙宇峰，
申请(专利权)人：上海高衡电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]