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本发明涉及一种基于ATE测试机的低压差线性稳压器芯片批量测试方法，属于芯片测试技术领域。采用了本发明的LDO芯片批量测试方法，芯片测试单元实现芯片自动测试分选机和ATE自动测试机与待测芯片的连接，调用ATE自动测试机的测试资源，实现待测芯片...
该专利属于南京微盟电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京微盟电子有限公司授权不得商用。

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