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本发明提供的一种用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路及方法，通过引脚复用的方式将芯片引脚的划分为工作模式和测试模式，且在电路中设置了模式切换模块，模式切换模块通过识别输入的测试控制信号来实现两种模式之间的切换，其中测试模式下还设有测试向...
该专利属于杭州傲芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州傲芯科技有限公司授权不得商用。

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