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本公开提供了一种操作系统测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及测试技术领域,方法包括:获取待测试操作系统的测试信息;在所述待测试操作系统中确定与所述测试信息对应的多个结构层级;提取所述多个结构层级中最低结构层级对应的目标原子测试用例;组合...该专利属于北京罗克维尔斯科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京罗克维尔斯科技有限公司授权不得商用。
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本公开提供了一种操作系统测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及测试技术领域,方法包括:获取待测试操作系统的测试信息;在所述待测试操作系统中确定与所述测试信息对应的多个结构层级;提取所述多个结构层级中最低结构层级对应的目标原子测试用例;组合...