操作系统测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:43345145 阅读:25 留言:0更新日期:2024-11-15 20:42
本公开提供了一种操作系统测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及测试技术领域,方法包括:获取待测试操作系统的测试信息;在所述待测试操作系统中确定与所述测试信息对应的多个结构层级;提取所述多个结构层级中最低结构层级对应的目标原子测试用例;组合所述目标原子测试用例,得到所述待测试操作系统对应的目标测试用例;采用所述目标测试用例对所述待测试操作系统进行测试,得到所述待测试操作系统的测试结果。通过本公开,可提高操作系统的测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及测试,尤其涉及到一种操作系统测试方法、装置、电子设备及存储介质


技术介绍

1、操作系统,是计算机硬件基础上的第一层软件,是硬件和其它软件沟通的桥梁。操作系统会控制其他程序运行、管理系统资源、提供最基本的计算功能等,如管理及配置内存、决定系统资源供需的优先次序等,同时还提供一些基本的服务程序,例如文件系统、设备驱动程序、用户接口、系统服务程序。操作系统如此重要,那么对操作系统的测试就显得尤为重要。

2、目前,操作系统测试大多是对测试用例单独编码,通过多处理器虚拟平台(quickemulator,qemu)仿真调试,此种方式下需要重复进行测试用例的编码操作,导致操作系统的测试效率较低。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供了一种操作系统测试方法、装置、电子设备及存储介质,主要目的在于解决目前操作系统测试时,测试效率较低的技术问题。

2、根据本申请的第一个方面,提供了一种操作系统测试方法,包括:

3、获取待测试操作系统的测试信息;

4、在所述待测试操作系本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种操作系统测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试信息中包含所述待测试操作系统测试涉及的结构层级信息,所述在所述待测试操作系统中确定与所述测试信息对应的多个结构层级,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个结构层级中最低结构层级为功能函数,所述提取所述多个结构层级中最低结构层级对应的目标原子测试用例,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个结构层级按照由低到高的层级顺序至少包括:功能函数、测试功能、测试模块、操作系统,所述组合所述目标原子测试用例,得到所述待测试操作系统对...

【技术特征摘要】

1.一种操作系统测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试信息中包含所述待测试操作系统测试涉及的结构层级信息,所述在所述待测试操作系统中确定与所述测试信息对应的多个结构层级,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个结构层级中最低结构层级为功能函数,所述提取所述多个结构层级中最低结构层级对应的目标原子测试用例,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个结构层级按照由低到高的层级顺序至少包括:功能函数、测试功能、测试模块、操作系统,所述组合所述目标原子测试用例,得到所述待测试操作系统对应的目标测试用例,包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:韩小虎
申请(专利权)人:北京罗克维尔斯科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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