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本发明涉及电源老化测试技术领域，揭露一种AI电源串并联老化测试方法及系统，方法包括：利用第一双向DC‑DC与第二双向DC‑DC构建AI电源产品的老化测试平台；串联低压AI电源产品，连通串联托盘、老化测试平台及AC‑DC电源，得到串联老化测试...
该专利属于冠佳技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过冠佳技术股份有限公司授权不得商用。

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