AI电源串并联老化测试方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及电源老化测试技术领域，揭露一种AI电源串并联老化测试方法及系统，方法包括：利用第一双向DC‑DC与第二双向DC‑DC构建AI电源产品的老化测试平台；串联低压AI电源产品，连通串联托盘、老化测试平台及AC‑DC电源，得到串联老化测试系统；对串联老化测试系统进行系统初始化，得到串联初始化系统，开启串联初始化系统之后，采集低压AI电源产品输出的低压电源参数；并联高压AI电源产品，连通并联托盘、老化测试平台及AC‑DC电源；对并联老化测试系统进行系统初始化，得到并联初始化系统，开启并联初始化系统之后，采集高压AI电源产品输出的高压电源参数。本发明专利技术可以实现1.8V以上的电源进行并联老化测试，低压1.8V以下进行串联老化测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电源老化测试，尤其涉及一种ai电源串并联老化测试方法及系统。

技术介绍

1、ai电源老化测试的研发背景主要源于对电源模块性能和稳定性的高要求，随着人工智能技术的不断发展，各种智能设备和系统对电源模块的要求也日益严格，而电源模块作为智能设备的核心组件之一，其性能和稳定性直接影响到整个系统的运行效果，在实际应用中，电源模块可能会因为长时间运行、环境变化、负载波动等因素导致性能下降或失效，因此，对电源模块进行老化测试，并模拟电源模块在长时间运行和恶劣环境下的工作状态，是确保电源模块性能和稳定性的重要手段。

2、过去，ai cpu供电电压从5v到3.3v再到1.8v不等，现在ai cpu供电电压能从1.8v达到1.2v以下，且保持在0.45v左右，在这个电压演变过程中，电流会从0a到240a甚至更大电流，在电源老化测试过程中1.8v以上的电源可以使用节能负载(升压)进行升压后进行功率变换实现节能老化测试，但是传统的升压方案无法完成1.8v以上的电源升压过程，这给电源老化测试带来痛点。

3、因此，如何设计一种新型的ai电源串并联本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种AI电源串并联老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一双向DC-DC与所述第二双向DC-DC构建所述AI电源产品的老化测试平台，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述产品托盘，串联所述低压AI电源产品，得到串联托盘，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述连通所述串联托盘、所述老化测试平台及所述AC-DC电源，得到串联老化测试系统，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述串联老化测试系统进行系统初始化，得到串联初始化...

【技术特征摘要】

1.一种ai电源串并联老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一双向dc-dc与所述第二双向dc-dc构建所述ai电源产品的老化测试平台，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述产品托盘，串联所述低压ai电源产品，得到串联托盘，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述连通所述串联托盘、所述老化测试平台及所述ac-dc电源，得到串联老化测试系统，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述串联老化测试系统进行系统初始化，得...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊文彬，
申请(专利权)人：冠佳技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：