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一种半导体器件的制造方法,包括:提供衬底,在所述衬底中具有沟槽,在所述沟槽中填充有绝缘介质,在所述衬底的沟槽以外的区域上具有垫氧化硅层;执行氧化工艺,以氧化所述垫氧化硅层下面的衬底,在所述垫氧化硅层下形成牺牲氧化硅层;去除所述垫氧化硅层和牺...该专利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(北京)有限公司授权不得商用。
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一种半导体器件的制造方法,包括:提供衬底,在所述衬底中具有沟槽,在所述沟槽中填充有绝缘介质,在所述衬底的沟槽以外的区域上具有垫氧化硅层;执行氧化工艺,以氧化所述垫氧化硅层下面的衬底,在所述垫氧化硅层下形成牺牲氧化硅层;去除所述垫氧化硅层和牺...