温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种元器件的批量测试方法及装置，其用以检测多个异侧电极晶圆，其包括：S1、暴露待检测晶圆的异侧电极；S2、将待检测晶圆的第一电极连接于信号处理组件接收端；S3、将探针一端与部分晶圆的第二电极电连接，另一端连接信号处理组件发射端；...
该专利属于苏州集泰信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州集泰信息科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。