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冷却结构及芯片测试装置制造方法及图纸
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下载冷却结构及芯片测试装置的技术资料
文档序号:43332809
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本技术涉及一种冷却结构及芯片测试装置,冷却结构包括壳体,壳体设有进液通道、出液通道及至少两条螺旋流道,各螺旋流道的两端分别与进液通道和出液通道连通,进液通道设于壳体的中心,每条螺旋流道均自进液通道沿同一旋转方向呈螺旋线的形状开设。流体通过壳...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。
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