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公开了一种用于估计经历性能退化的集成电路(105)的工作年龄的传感器(100)和相关的篡改检测方法。传感器(100)可在常规使用模式或读出模式下操作，并包括对温度应力和电压应力作出响应的性能监测器(101)和对温度压力作出响应的退火监测器(...
该专利属于IMEC非营利协会所有，仅供学习研究参考，未经过IMEC非营利协会授权不得商用。

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