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本技术公开了一种芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，针对了对芯片测试时易出现位移以及芯片放置以及拿取不便的问题，包括工作台，还包括一框架，框架固定于工作台顶端侧壁，框架一侧侧壁固定有测试器本体，工作台一侧侧壁固定有两个呈对称分布的承载架，框...
该专利属于北京富光联创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京富光联创科技有限公司授权不得商用。

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