一种芯片测试装置制造方法及图纸

本技术公开了一种芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，针对了对芯片测试时易出现位移以及芯片放置以及拿取不便的问题，包括工作台，还包括一框架，框架固定于工作台顶端侧壁，框架一侧侧壁固定有测试器本体，工作台一侧侧壁固定有两个呈对称分布的承载架，框架位于承载架正上方，承载架一侧设置有定位组件；本技术通过定位组件的设置，能够满足对不同种测试工作前的定位工作需求，从而防止在对芯片测试加工时芯片发生位移，确保芯片处于相对稳定的状态下进行测试加工，而且能够满足于对不同规格的芯片测试加工需求，适用范围较广，结构简单可靠性高。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于芯片测试，具体涉及一种芯片测试装置。

技术介绍

1、集成电路或称微电路、微芯片、晶片/芯片(在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。

2、对比专利文件公开号为：“cn218383163u一种射频芯片测试装置，属于芯片测试
，包括底座、测试防护箱和定位组件，所述测试防护箱安装在底座的顶部，所述测试防护箱的顶部安装有射频测试机，所述射频测试机两侧的测试防护箱的顶部分别设置有气泵和吸尘器；本技术通过压缩弹簧对推板作用，使得推板向承载盘进行夹持，使得承载盘插接在定位槽内，对射频芯片定位；通过测试防护箱在射频测试机对射频芯片测试时，起到防护的效果，同时，通过测试防护箱顶部安装的吸尘器，可以对底板上的杂质进行清理，通过气泵向测试防护箱进行吹气，使得内部空气进流动，并通过风机进行排气散热，能够降低测试环境中杂质，保证芯片测试数值的准确性”上述专利文件，但是在实际使用情况下仍然存在以下问题：目前现有的芯片测试分为有多种测试方式，由于芯片属精密部件，导致在对芯片测试时拿取以及方式时本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片测试装置，包括工作台(1)，其特征在于，还包括

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述定位组件(5)包括

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述传动板(54)一侧侧壁开设有多个呈对称分布的凹槽(6)，所述凹槽(6)与所述框架(2)一侧滑动连接，所述夹持板(53)竖直截面呈L性状设置，所述夹持板(53)一侧侧壁固定有橡胶板(7)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述工作台(1)一侧设置有移动组件(8)，所述移动组件(8)包括

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试装置，...

【技术特征摘要】

1.一种芯片测试装置，包括工作台(1)，其特征在于，还包括

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述定位组件(5)包括

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述传动板(54)一侧侧壁开设有多个呈对称分布的凹槽(6)，所述凹槽(6)与所述框架(2)一侧滑动连接，所述夹持板(53)竖直截面呈l性状设置，所述夹持板(53)一侧侧壁固定有橡胶板(7)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述工作台(1)一侧设置有移动组件(8)，所述移动组件(8)包括

【专利技术属性】
技术研发人员：冯国淇，覃宗鹏，
申请(专利权)人：北京富光联创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：

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