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本发明描述了一种能够同时进行多个样本的分析的差示扫描量热仪(DSC)仪器。本文所述DSC仪器的一些实施方案包括在基底的整个表面上提供基本上均匀的温度的热基底。多个DSC单元例如通过将该单元直接安装到该基底的该表面而与该基底热连通。每个DSC...
该专利属于沃特世科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过沃特世科技公司授权不得商用。

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