【技术实现步骤摘要】
本技术总体涉及量热系统。更具体地，该技术涉及具有高样本通量的差示扫描量热仪仪器。
技术介绍
1、量热仪是可用于通过测量样本与其周围环境之间的热流来测量材料样本的能量的变化的仪器。差示扫描量热仪(dsc)是一种可用于测量生物样本、纳米尺寸材料和聚合物的特性的量热仪仪器。可确定与加热或冷却样本或与样本中的热转变相关联的热流。dsc通常具有至少一个样本室和至少一个参考室。在典型的dsc测量中，样本室和参考室的温度以受控方式升高或降低，但一些测量可在单个温度下完成。在其中样本不经历转变的温度范围内，样本的热容量可通过测量与参考样本相比加热或冷却样本所需的差热流来测量。当改变样本和参考样本的温度，使得样本达到与由放热或吸热相变引起的加热或冷却相关的转变温度时，可使用与进出参考样本的热流相比进出样本的差热流来确定转变温度并计算转变的焓。类似地，当样本包括生物分子时，可通过dsc测量来确定与生物分子的折叠和稳定性相关的因子。
2、一些常规的dsc仪器仅限于在仪器测量周期期间分析单个样本。根据温度随时间的变化，分析单个样本所需的时间可从几分...
【技术保护点】
1.一种与差示扫描量热仪一起使用的样本芯片，所述样本芯片包括：
2.根据权利要求1所述的样本芯片，进一步包括所述第一表面上的用于所述内部空隙的第二端口。
3.根据权利要求1所述的样本芯片，其中所述内部空隙是微流体通道。
4.根据权利要求3所述的样本芯片，其中所述微流体通道具有蛇形路径。
5.根据权利要求1所述的样本芯片，其中所述主体由化学惰性材料构成。
6.根据权利要求1所述的样本芯片，进一步包括形成在所述第二表面上且具有比所述主体的热导率大的热导率的材料层。
7.根据权利要求1所述的样本芯片，其...
【技术特征摘要】
1.一种与差示扫描量热仪一起使用的样本芯片，所述样本芯片包括：
2.根据权利要求1所述的样本芯片，进一步包括所述第一表面上的用于所述内部空隙的第二端口。
3.根据权利要求1所述的样本芯片，其中所述内部空隙是微流体通道。
4.根据权利要求3所述的样本芯片，其中所述微流体通道具有蛇形路径。
5.根据权利要求1所述的样本芯片，其中所述主体由化学惰性材料构成。
6.根据权利要求1所述的样本芯片，进一步包括形成在所述第二表面上且具有比所述主体的热导率大的热导率的材料层。
7.根据权利要求1所述的样本芯片，其中所述主体的厚度在从约0.5mm至约1.5mm的范围内。
8.根据权利要求3所述的样本芯片，其中所述微流体通道包括沿着流体通道的长度限定的腔室。
9.根据权利要求3...
【专利技术属性】
技术研发人员：D·J·拉塞尔，D·塞雷尔，A·E·阿内里奇，
申请(专利权)人：沃特世科技公司，
类型：发明
国别省市：
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