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本发明属于光学测量领域中的干涉测量技术，涉及一种透明样品厚度和折射率测量系统及方法。系统包括：SLD光源、光谱仪、光纤结构、参考端结构和测量端结构。所述参考端结构包括反射镜、参考端准直器及其角度调整架；所述测量端结构包括上测量端准直器及其角...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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