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本申请提供一种用于存储器自检及修复的方法及装置，所述方法包括：根据控制信号定义或测试模式配置，预定义存储器测试算法；根据测试算法启动存储器测试逻辑，以获取待测存储器的读数据，所述测试逻辑包括数据处理模块；如果所述读数据和比较数据不一致，记录...
该专利属于苏州雄立科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州雄立科技有限公司授权不得商用。

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