【技术实现步骤摘要】
本申请涉及通信，尤其涉及一种用于存储器自检及修复的方法及装置。
技术介绍
1、芯片在生产制造时，基于内部功能需求，会设置存储器。由于存储器内部比较复杂，容易出现故障，例如，存储器进行读写操作的过程中的读写控制电路故障，再例如，地址译码电路出现的故障，而存储器的核心存储单元阵列由数以万计的存储单元排列而成，出现故障的概率更高。
2、内存内置自测试(memory built-in self-test，mbist)是一种在芯片内部集成的测试逻辑，用于在芯片制造后的测试阶段以及芯片的实际使用过程中自动检测和修复存储器中的故障。在执行mbist时，是根据芯片内部逻辑固定的算法执行测试和修复，如果芯片在设计时只支持某一检测故障算法，而用户希望使用另一种检测故障算法，导致该用户不会选择此款芯片。
3、并且芯片封装时可能会根据客户需求裁剪功能，导致一部分内存不使用，但检测逻辑仍会对芯片内部所有内存进行测试和修复，浪费资源和时间。同时mbist功能由内存或者后端厂家提供，每组内存会自带bist(built-in self-test，内建自测试)功能，内存越多，实现bist功能所需的资源也越多，导致资源浪费。
技术实现思路
1、本申请提供一种用于存储器自检及修复的方法及装置，以解决资源浪费的问题。
2、第一方面，本申请提供一种用于存储器自检及修复的方法，包括：
3、根据控制信号定义或测试模式配置，预定义存储器测试算法；
4、根据测试算法启动存
5、如果所述读数据和比较数据不一致，记录错误地址和错误数据；
6、根据所述错误地址和错误数据，计算故障率；
7、如果故障率小于或等于故障率阈值，调用所述数据处理模块，所述数据处理模块用于生成修复信息；
8、基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。
9、在一些可行的实施例中，还包括：
10、如果所述故障率大于错误阈值，输出错误信息，所述错误信息表征所述错误地址和错误数据无法修复。
11、在一些可行的实施例中，还包括：
12、获取所述待测存储器的位宽；
13、对所述待测存储器中的数据执行循环移位，所述移位的次数为位宽次数的移位；
14、如果比较数据的指定位与读数据的指定位数据不同，输出第一值，所述比较数据与所述读数据的位序列相同；
15、如果输出第一值的次数为1，基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复；
16、如果输出第一值的次数大于1，输出错误信息。
17、在一些可行的实施例中，所述输出错误信息后，包括：
18、根据所述错误信息，触发重试机制，以得到重试结果，所述重试机制用于重新尝试访问存储器；
19、如果所述重试结果为成功，输出正确信息，所述正确信息表征基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复；
20、如果所述重试结果为失败，输出错误信息。
21、在一些可行的实施例中，所述如果故障率小于或等于故障率阈值，调用所述数据处理模块后，还包括；
22、根据所述错误地址和错误数据，获取冗余列；
23、利用所述冗余列对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。
24、在一些可行的实施例中，所述根据测试算法启动存储器测试逻辑，以获取待测存储器的读数据，包括：
25、响应于预定义存储器测试算法的指令，设置测试逻辑为启动状态，所述配置信息至少包括起始地址和结束地址；
26、根据所述测试算法和配置信息，生成读写控制信号以及测试数据，所述读写控制信号包括使能信号、地址信号；
27、将所述控制信号或测试数据发送至存储器封装器，以触发存储器写操作或接收读数据。
28、在一些可行的实施例中，所述测试逻辑还包括比较模块；
29、所述如果所述读数据和比较数据不一致，记录错误地址和错误数据包括：
30、调用所述比较模块，以通过比较逻辑对比所述读数据和比较数据，以及，通过错误地址和错误数据计算故障率，所述比较模块包括所述测试逻辑的比较逻辑。
31、在一些可行的实施例中，所述测试逻辑还包括状态机，所述状态机用于拉高比较使能信号；
32、所述如果所述读数据和比较数据不一致，记录错误地址和错误数据，包括：
33、响应于所述状态机拉高比较使能信号，对比所述读数据和比较数据；
34、对所述读数据和比较数据执行逐位异或操作，如果异或结果为1，记录错误地址和错误数据。
35、在一些可行的实施例中，还包括：
36、计算存储器数据的第一校验和，并将所述第一校验和存储在校验位中，所述校验位设置在所述存储器的区域；
37、响应于数据被读取的指令，计算存储器数据的第二校验和；
38、如果所述第一校验和与第二校验和不同，调用数据处理模块，所述数据处理模块用于生成修复信息；
39、基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。
40、第二方面，本申请还提供一种用于存储器自检及修复的装置，包括：
41、获取单元，用于根据控制信号定义或测试模式配置，预定义存储器测试算法；以及，根据测试算法启动存储器测试逻辑，以获取存储器的读数据，所述测试逻辑包括数据处理模块；如果所述读数据和比较数据不一致，所述获取单元还用于记录错误地址和错误数据；如果所述读数据和比较数据不一致，所述获取单元还用于记录错误地址和错误数据；
42、计算单元，用于根据所述错误地址和错误数据，计算故障率；
43、处理单元，如果故障率小于或等于故障率阈值，所述处理单元用于调用数据处理模块，所述数据处理模块用于生成修复信息；
44、所述处理单元还用于基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。
45、由以上技术方案可知，本申请提供一种用于存储器自检及修复的方法及装置，所述方法包括：根据控制信号定义或测试模式配置，预定义存储器测试算法；根据测试算法启动存储器测试逻辑，以获取待测存储器的读数据，所述测试逻辑包括数据处理模块；如果所述读数据和比较数据不一致，记录错误地址和错误数据；根据所述错误地址和错误数据，计算故障率；如果故障率小于或等于故障率阈值，调用所述数据处理模块，所述数据处理模块用于生成修复信息；基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。所述方法通过一个测试逻辑，可完成对存储器的自检和修复，还可通过管脚或寄存器灵活选择存储器的数量以及检测方案，使方法更灵活，以解决资源浪费的问题。
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1.一种用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求2或3所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，所述输出错误信息后，包括：
5.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，所述如果故障率小于或等于故障率阈值，调用所述数据处理模块后，还包括；
6.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，所述根据测试算法启动存储器测试逻辑，以获取待测存储器的读数据，包括：
7.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，所述测试逻辑还包括比较模块；
8.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，所述测试逻辑还包括状态机，所述状态机用于拉高比较使能信号；
9.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，还包括：
10.一种用于存储器自检及
...【技术特征摘要】
1.一种用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求2或3所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，所述输出错误信息后，包括：
5.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法，其特征在于，所述如果故障率小于或等于故障率阈值，调用所述数据处理模块后，还包括；
6.根据权利要求1所述的用于存储器自检及修复的方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪又金，闫振林，史顺达，
申请(专利权)人：苏州雄立科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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