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去除铑基体干扰的铑粉中杂质元素准确测定方法技术
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下载去除铑基体干扰的铑粉中杂质元素准确测定方法的技术资料
文档序号:43300853
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本发明提供了一种去除铑基体干扰的铑粉中杂质元素准确测定方法,属于分析检测领域。本发明通过称取若干份等量的铑粉样品,将其分别配制成样品溶液,再基于电感耦合等离子体原子发射光谱仪,采用改进的标准加入法分别建立含铑基体的校准曲线和无铑基体的校准曲...
该专利属于长春黄金研究院有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长春黄金研究院有限公司授权不得商用。
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