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本申请涉及一种探针测试装置及测试设备，探针测试装置包括第一滑动机构、探针组件及第二滑动机构，其中：探针组件设置于第一滑动机构，第一滑动机构用于驱动探针组件进行多轴运动，探针组件包括两根探针；第二滑动机构设置于第一滑动机构，至少一根探针设置于...
该专利属于苏州华兴源创科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华兴源创科技股份有限公司授权不得商用。

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