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本发明公开了一种金包银制品金层金含量与金质量快速测定方法，其包括如下步骤：步骤S1，利用预设的X射线荧光光谱仪检测金包银制品表面金含量及金层厚度，并对所述金包银制品加工形成银裸露口；步骤S2，利用预设的化学试剂溶解所述金包银制品中的银成分，...
该专利属于深圳市国检珠宝检测检验中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市国检珠宝检测检验中心有限公司授权不得商用。

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