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本发明公开了一种对继电保护设备进行单粒子效应测试的方法及装置。其中，方法包括：确定待测试继电保护设备的单比特变位存储单元板卡；进行时序逻辑测试，确定待测试继电保护设备的时序逻辑测试结果；进行置位测试，确定待测试继电保护设备的第一置位方案；对...
该专利属于中国电力科学研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国电力科学研究院有限公司授权不得商用。

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