温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种脉冲强磁场透射光谱测量方法及系统，属于光学测量技术领域，该方法将白光源导入作为脉冲强磁场下的微区测量光源的单模光纤，白光经过含有待测样品透射光路被回射，被回射的白光进入多模光纤进行回收；其中，回收的光通过光谱仪，经过处理的脉...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。