【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学测量，更具体的涉及一种在狭小空间、极低温高真空环境的脉冲强磁场透射光谱测量方法及系统。
技术介绍
1、强磁场作为一种特殊的、极端的科学研究条件，对科学研究取得突破性进展有着强大的推动力，而脉冲强磁场比稳态强磁场更容易获得高强度的磁场。因此，世界上屈指可数的脉冲强磁场实验室，为各领域科学研究提供强磁场这一难得的极端环境。
2、为探究极端环境下的材料特性，需要搭建针对极端环境的样品测量系统。
3、脉冲强磁场科学实验装置具有极低温、高真空、强磁场等极端条件，在脉冲强磁场装置中进行光学实验，目前，专利号为cn111381199a的中国申请专利，公开了一种脉冲强磁场光学测量系统及方法，该方法利用光纤的耐低温性能成功地完成了极端环境下的光学信号回收。2016年，美国洛斯阿拉莫斯国家实验室报道了一种脉冲强磁场下反射光谱测量系统，该系统光路部分使用多模光纤导入入射光，经过一个凸透镜汇聚到生长在硅基底的样品上，再使用多模光纤收集反射光，将信号回收。
4、然而，上述两种光学测量系统均无法达到脉冲强磁场下...
【技术保护点】
1.一种脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述待测样品为二维材料或薄膜材料；所述二维材料或薄膜材料转移至单模光纤端面，通过导入的白光源产生回收光。
3.根据权利要求1所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述白光源的光路和脉冲强磁场装置触发信号所在的电路均通过前端支撑件架设；
4.根据权利要求2所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述单模光纤的出射光经过设置在前端支撑件上的同心的准直透镜，射入等腰直角三棱镜，再经过直角的两条等腰边...
【技术特征摘要】
1.一种脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述待测样品为二维材料或薄膜材料；所述二维材料或薄膜材料转移至单模光纤端面，通过导入的白光源产生回收光。
3.根据权利要求1所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述白光源的光路和脉冲强磁场装置触发信号所在的电路均通过前端支撑件架设；
4.根据权利要求2所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述单模光纤的出射光经过设置在前端支撑件上的同心的准直透镜，射入等腰直角三棱镜，再经过直角的两条等腰边对应的两个面反射形成回射，在回射位置使用多模光纤回收信号光。
5.根据权利要求2所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述待测样品的温度信息的获取包括以下步骤：
6.根据权利要求2所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，所述磁场信息的测量为通过读取缠绕在前端支撑件上的测磁线圈的感应电动势，得到磁场信息。
7.根据权利要求6所述的脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。