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本发明涉及一种用于射线检查的成像系统及方法，所述成像系统包括：射线源，用于发射X射线，射线源为分布式射线源，分布式射线源包括多个靶点，多个靶点能够按照预定顺序依次发射X射线；探测器，用于接收射线源发射并且透射通过检查区域的X射线，探测器与射...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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