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本申请实施例提供了一种插损测试方法及装置，包括：响应于导入指令，将一个或多个印制电路板的叠层文件导入叠层数据管理单元，其中，叠层文件包括印制电路板的叠层数据；响应于对第一印制电路板的插损测试指令，读取第一印制电路板的编码信息，并在编码信息中...
该专利属于苏州元脑智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州元脑智能科技有限公司授权不得商用。

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