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本发明公开了一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，涉及到半导体包装膜袋性能检测领域，包括工作台，工作台上固定安装有控制面板，工作台上固定安装有U型安装架，四个升降板的底部均活动安装有半导体包装膜袋测试块，工作台的顶侧固定安...
该专利属于江苏普清净化科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏普清净化科技有限公司授权不得商用。

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