一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，涉及到半导体包装膜袋性能检测领域，包括工作台，工作台上固定安装有控制面板，工作台上固定安装有U型安装架，四个升降板的底部均活动安装有半导体包装膜袋测试块，工作台的顶侧固定安装有阻隔性能测试模块、抗拉测试模块、撕裂检测模块、热封检测模块。本发明专利技术，利用阻隔性能测试模块、抗拉测试模块、撕裂检测模块、热封检测模块对于半导体包装膜袋进行自动化的检测，可以快速便捷的检测出半导体包装膜袋的阻隔性能、抗拉强度性能、撕裂强度性能、热封强度和热封剥离力性能多项指标，满足日常生产中对于半导体包装膜袋的质量检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体包装膜袋性能检测，尤其涉及一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法。

技术介绍

1、半导体包装膜袋是半导体产品封装过程中使用的关键材料，用于保护半导体芯片免受外部环境的损害，半导体芯片本身非常脆弱，因此需要进行塑封保护，以防止芯片受到机械损伤、静电干扰、湿度变化等外部环境的影响。

2、现有技术中，为了保证半导体包装膜袋对于半导体具有良好的保护作用，需要对于半导体包装膜袋进行各项性能进行详细的检测，特别是工厂批量生产，更需要保证各个批次半导体包装膜袋产品的质量，因此需要一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法来满足人们的需求。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，以解决上述
技术介绍
中提出的为了保证半导体包装膜袋对于半导体具有良好的保护作用，需要对于半导体包装膜袋进行各项性能进行详细的检测，特别是工厂批量生产，更需要保证各个批次半导体包装膜袋产品的质量的问题。

2、为实现上述目的，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，包括工作台(100)，其特征在于：所述工作台(100)上固定安装有控制面板(101)，所述工作台(100)上固定安装有U型安装架(200)，U型安装架(200)上固定安装有四个升降安装架(201)，四个升降安装架(201)的底侧均滑动安装有升降板(202)，四个升降板(202)的底部均活动安装有半导体包装膜袋测试块(300)，所述工作台(100)的顶侧固定安装有阻隔性能测试模块(400)、抗拉测试模块(500)、撕裂检测模块(600)、热封检测模块(700)，阻隔性能测试模块(400)、抗拉测试模块(500)、撕裂检测模块(60...

【技术特征摘要】

1.一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，包括工作台(100)，其特征在于：所述工作台(100)上固定安装有控制面板(101)，所述工作台(100)上固定安装有u型安装架(200)，u型安装架(200)上固定安装有四个升降安装架(201)，四个升降安装架(201)的底侧均滑动安装有升降板(202)，四个升降板(202)的底部均活动安装有半导体包装膜袋测试块(300)，所述工作台(100)的顶侧固定安装有阻隔性能测试模块(400)、抗拉测试模块(500)、撕裂检测模块(600)、热封检测模块(700)，阻隔性能测试模块(400)、抗拉测试模块(500)、撕裂检测模块(600)、热封检测模块(700)分别与相应的半导体包装膜袋测试块(300)相适配，所述工作台(100)内部固定安装有加热箱(800)和冷冻箱(801)。

2.根据权利要求1所述的一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，其特征在于：所述升降安装架(201)上固定安装有升降电机(203)，升降电机(203)的输出端固定安装有升降丝杆(204)，升降丝杆(204)螺纹安装在升降板(202)上，升降安装架(201)的两侧内壁上均开设有升降滑槽(205)，两个升降滑槽(205)内均滑动安装有升降滑块(206)，两个升降滑块(206)分别固定安装在升降板(202)的两侧。

3.根据权利要求1所述的一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，其特征在于：所述包括阻隔测试壳体(401)，阻隔测试壳体(401)固定安装在工作台(100)顶侧，阻隔测试壳体(401)内壁滑动安装有两个阻隔测试滑动夹块(402)，一个阻隔测试滑动夹块(402)内固定安装有湿度传感器(407)和阻隔测试记录摄像头(408)，一个阻隔测试滑动夹块(402)内开设有集水槽(409)，集水槽(409)内固定安装有排水泵(410)，两个阻隔测试滑动夹块(402)相互靠近的一侧均固定安装有阻隔测试密封垫(403)，阻隔测试壳体(401)外侧固定安装有阻隔测试水箱(404)，阻隔测试水箱(404)内固定安装有水泵(405)，水泵(405)和阻隔测试滑动夹块(402)之间固定安装有输水管(406)，排水泵(410)和阻隔测试水箱(404)之间固定安装有排水管道(411)。

4.根据权利要求3所述的一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，其特征在于：所述阻隔测试壳体(401)的底侧开设有阻隔测试限位槽(414)，阻隔测试限位槽(414)均滑安装又有两个阻隔测试限位块(415)，两个阻隔测试限位块(415)分别固定安装在阻隔测试滑动夹块(402)的底侧，阻隔测试壳体(401)上固定安装有阻隔测试电机(412)，阻隔测试电机(412)的输出端固定安装有阻隔测试丝杆(413)，阻隔测试丝杆(413)的螺纹安装在阻隔测试滑动夹块(402)上。

5.根据权利要求1所述的一种批量化连续进行的半导体包装膜袋性能检测装置及其方法，其特征在于：所述抗拉测试模块(500)包括抗拉测试壳体(501)，抗拉测试壳体(501)固定安装在工作台(100)的底侧，抗拉测试壳体(501)内滑动安装有两个抗拉测试基座(502)，两个抗拉测试基座(502)内均滑动安装有抗拉测试拉伸块(503)，其中一个抗拉测试基座(502)上固定安装有抗拉测试记录摄像头(504)，抗拉测试基座(502)上开设有抗拉测试滑槽(505)，抗拉测试滑槽(505)内滑动安装有抗拉测试滑块(506)，抗拉测试滑块(506)内滑动安装有两个抗拉测试拉伸丝杆(507)，两个抗拉测试拉伸丝杆(507)分别固定安装在抗拉测试拉伸块(503)上，抗拉测试基座(502)上固定安装有抗拉测试拉伸电机(508)，抗拉测试拉伸电机(508)的输出端固定安装有抗拉测试拉伸丝杆(507)，抗拉测试拉伸丝杆(507)螺纹安装在两个抗拉测试滑块(506)上，抗拉测试壳体(501)的底侧开设有抗拉测试活动槽(512)，抗拉测试活动槽(512)内滑动安装有两个抗拉测试活动块(513)，两...

【专利技术属性】
技术研发人员：张庆斌，金明辉，吴荣军，范士品，庄蕾，朱华，
申请(专利权)人：江苏普清净化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：