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本技术公开了一种芯片封装测试设备，其包括设备主体，所述设备主体内壁开设有若干限位槽，且限位槽内部活动套接有放置板，所述放置板内部对称开设有凹槽，且凹槽内部活动套接有垫块，所述垫块一侧固定连接有固定杆，且固定杆贯穿放置板、凹槽一侧，并且固定杆...
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