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本发明提供了一种SoC芯片全生命周期健康状态数据积累方法及系统，其中方法包括：周期性地获取表征芯片健康状态的信息数据；对获取的所述信息数据进行格式设定，构建健康状态数据包单元；设定所述健康状态数据包单元的数据存储策略，并根据所述数据存储策略...
该专利属于北京辉羲智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京辉羲智能科技有限公司授权不得商用。

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