SoC芯片全生命周期健康状态数据积累方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种SoC芯片全生命周期健康状态数据积累方法及系统，其中方法包括：周期性地获取表征芯片健康状态的信息数据；对获取的所述信息数据进行格式设定，构建健康状态数据包单元；设定所述健康状态数据包单元的数据存储策略，并根据所述数据存储策略对所述健康状态数据包进行云端存储或本地存储；根据存储状态，对相应健康状态数据包单元进行数据收集，最终全部存储于云端存储，完成对种SoC芯片全生命周期健康状态数据的积累。本发明专利技术在时间维度和结构维度定义了数据精简压缩的方法，在尽可能保留健康监控信息的同时减少数据量；能够有效收集芯片全生命周期的运行状态信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及车用芯片，具体地，涉及一种soc芯片全生命周期健康状态数据积累方法及系统，同时提供了一种相应的计算机终端及计算机可读存储介质。

技术介绍

1、随着汽车电子电气系统的不断演进，车用芯片的复杂度不断提升。近年来区域和中央控制概念逐步流行，带动车上越来越多地应用先进制程soc芯片，其典型特点包括：

2、性能优异，远超传统嵌入式mcu的处理能力；

3、采用目前的最先进制程，处于16nm以下，达到7nm及更低；

4、系统复杂异构，除cpu外，还包括gpu、npu(神经网络处理)、多媒体处理等其它协处理单元；

5、搭载例如linux这种复杂的高阶操作系统；

6、配备较大容量的存储器，包括运行时内存ddr会达到数十gb，而持久性存储会达到数十至数百gb。

7、芯片制造工艺多达数十道甚至上百道，结构复杂，尺寸微小，任何一道工艺或结构异常都会导致芯片失效。同时芯片较为脆弱，任何不当使用都可能会损伤芯片，使得芯片在使用过程中出现失效。芯片失效涉及的分析非常复杂、需要的技术方法较多。

<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种SoC芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的SoC芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，所述周期性地获取表征芯片健康状态的信息数据，包括：

3.根据权利要求1所述的SoC芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，所述对获取的所述信息数据进行格式设定，构建健康状态数据包单元，包括：

4.根据权利要求3所述的SoC芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，将所述健康状态数据包单元设置为分钟和天两种数据存储周期，分别记为MinuteHealthData和DayHealthData；其中，...

【技术特征摘要】

1.一种soc芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的soc芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，所述周期性地获取表征芯片健康状态的信息数据，包括：

3.根据权利要求1所述的soc芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，所述对获取的所述信息数据进行格式设定，构建健康状态数据包单元，包括：

4.根据权利要求3所述的soc芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，将所述健康状态数据包单元设置为分钟和天两种数据存储周期，分别记为minutehealthdata和dayhealthdata；其中，dayhealthdata通过抽样每天的最后一个minutehealthdata产生。

5.根据权利要求1所述的soc芯片全生命周期健康状态数据积累方法，其特征在于，还包括：采用压缩算法对所述健康状态数据包单元进行压缩，包括：

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【专利技术属性】
技术研发人员：姜辛，贺光辉，章健勇，林啸，袁友行，
申请(专利权)人：北京辉羲智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：