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测量导电膜的厚度的装置和传感器制造方法及图纸
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下载测量导电膜的厚度的装置和传感器的技术资料
文档序号:43006670
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一种测量导电膜(3)厚度的装置(10)和传感器(1),导电膜(3)位于晶圆(2)上,装置(10)包括:第一线圈(110)被配置为产生磁场,以在晶圆(2)中激发涡流;第二线圈(120)设置在第一线圈(110)的靠近晶圆(2)的第一侧并且与第一...
该专利属于华为技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华为技术有限公司授权不得商用。
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