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本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种双面植针探针卡，包括电路板及多根探针，所述电路板具有相对设置的两个植针面，多根所述探针分别设置在两个所述植针面上，两个所述植针面上的探针分别用于对产品进行WAT测试。通过将传统探针卡的单面植针结构设计为...
该专利属于杭州积海半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州积海半导体有限公司授权不得商用。

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