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本发明提供一种line光刻方法。提供一掩模版、提供一晶圆基底,在晶圆基底上沉积硬质掩膜层,并在硬质掩膜层表面形成光刻胶层;进行曝光显影,形成光刻图形:其中,在曝光显影过程中,采用365纳米波长的紫外光照射光刻胶层,对掩模版图形进行曝光显影,...该专利属于物元半导体技术(青岛)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过物元半导体技术(青岛)有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种line光刻方法。提供一掩模版、提供一晶圆基底,在晶圆基底上沉积硬质掩膜层,并在硬质掩膜层表面形成光刻胶层;进行曝光显影,形成光刻图形:其中,在曝光显影过程中,采用365纳米波长的紫外光照射光刻胶层,对掩模版图形进行曝光显影,...