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本发明涉及一种应用于半导体检测的短波红外工业镜头，包括由物面至像面依次设置的透镜A、透镜B、透镜C、透镜D1、透镜D2、透镜E、可变光阑S、透镜F1、透镜F2、透镜G1和透镜G2；透镜B、透镜D2、透镜E、透镜F1和透镜G1具有正光焦度；透...
该专利属于福建优恩立光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福建优恩立光电科技有限公司授权不得商用。

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