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本发明公开了一种用于测量深小孔粗糙度的设备及其测量方法，包括：线光源，待测产品，以及半透半反射镜，所述待测产品具有深小孔，且深小孔面向半透半反射镜设置；半透半反射镜并承接平行光后形成测试出射光路和参考出射光路，测试出射光路朝向待测产品的孔底...
该专利属于宁波工程学院所有，仅供学习研究参考，未经过宁波工程学院授权不得商用。

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