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本发明涉及一种外观检测设备，公开了一种芯片成品检测系统及其芯片编带机构，包括编带机架，编带机架（301）上设有编带输送轨道（302）和沿编带输送轨道（302）进料方向依次设置的热封组件（303）、裁切组件（304）以及满带reel收料组件（...
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