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本发明提供了一种半导体器件的制备方法,包括在衬底上形成牺牲层,采用干法刻蚀工艺刻蚀所述牺牲层以形成多个通孔,所述通孔露出所述衬底,在每个所述通孔内至少形成焊料层,释放所述牺牲层,回流所述焊料层,以形成凸点。本发明利用干法刻蚀工艺刻蚀所述牺牲...该专利属于芯联越州集成电路制造(绍兴)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过芯联越州集成电路制造(绍兴)有限公司授权不得商用。
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本发明提供了一种半导体器件的制备方法,包括在衬底上形成牺牲层,采用干法刻蚀工艺刻蚀所述牺牲层以形成多个通孔,所述通孔露出所述衬底,在每个所述通孔内至少形成焊料层,释放所述牺牲层,回流所述焊料层,以形成凸点。本发明利用干法刻蚀工艺刻蚀所述牺牲...