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本发明提供一种芯片性能参数检测方法、装置、电子设备和存储介质，其中方法包括：基于待检测的芯片性能参数，以及芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建芯片性能参数的多项式，多项式用于计算核函数的运行时长；基于核函数在芯片上运行的数据量和...
该专利属于上海壁仞科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海壁仞科技股份有限公司授权不得商用。

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