【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片，尤其涉及一种芯片性能参数检测方法、装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
1、在人工智能领域，针对算子或者模型的性能评估，通常需要参考算子或者模型运行所在芯片的性能参数。
2、目前所应用的芯片的性能参数的参数值，通常是直接获取到的芯片设计时的理论值。但是，由于芯片制作时可能存在的工艺误差，芯片实际能够达到的性能与理论值存在偏差，直接影响了算子或者模型进行性能评估的准确性。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种芯片性能参数检测方法、装置、电子设备和存储介质，用以解决相关技术中芯片性能参数不准确的缺陷。
2、本专利技术提供一种芯片性能参数检测方法，包括：
3、基于待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数的多项式，所述多项式用于计算所述核函数的运行时长；
4、基于所述核函数在芯片上运行的数据量和实测运行时长，对所述多项式进行参数拟合，得到所述芯片性能参数的参数值。
5、根据本专利技术提供的一种芯片性能参数检测方法，所述基于待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数的多项式，包括：
6、基于所述待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数所对应核函数的净运行时长表达式；
7、基于基础开销参数，以及所述净运行时长表达式，构建所述芯片性能参
8、根据本专利技术提供的一种芯片性能参数检测方法，所述基于所述待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数所对应核函数的净运行时长表达式，包括：
9、将所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模作为所述核函数在芯片上运行的数据量的指数，以所述数据量与所述芯片性能参数之比，构建所述芯片性能参数所对应核函数的净运行时长表达式。
10、根据本专利技术提供的一种芯片性能参数检测方法，在存在至少两个芯片性能参数的情况下，不同芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模不同。
11、根据本专利技术提供的一种芯片性能参数检测方法，还包括：
12、基于所述芯片性能参数的参数值，对在所述芯片性能参数所对应芯片上运行的算子进行性能评估。
13、根据本专利技术提供的一种芯片性能参数检测方法，所述基于所述芯片性能参数的参数值，对在所述芯片性能参数所对应芯片上运行的算子进行性能评估，包括：
14、确定在芯片上运行的算子所对应的目标内存布局；
15、从各芯片性能参数的参数值中，选取所对应的核函数的内存布局与所述目标内存布局一致的芯片性能参数的参数值，作为目标参数值；
16、基于所述目标参数值，对所述算子进行性能评估。
17、本专利技术还提供一种芯片性能参数检测装置，包括：
18、多项式构建单元，用于基于待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数的多项式，所述多项式用于计算所述核函数的运行时长；
19、参数拟合单元，用于基于所述核函数在芯片上运行的数据量和实测运行时长，对所述多项式进行参数拟合，得到所述芯片性能参数的参数值。
20、本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述芯片性能参数检测方法。
21、本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述芯片性能参数检测方法。
22、本专利技术还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述芯片性能参数检测方法。
23、本专利技术提供的芯片性能参数检测方法、装置、电子设备和存储介质，基于芯片性能参数、以及芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模构建用于计算核函数运行时长的芯片性能参数的多项式，实现了贴合芯片真实的芯片性能参数特性的参数建模。基于实际运行核函数时的数据量和实测运行时长，对多项式进行参数拟合，即可实现针对芯片性能参数真实情况的检测，由此得到真实可靠的芯片性能参数的参数值，由此保障基于芯片性能参数的参数值评估算子或者模型的性能的可靠性。
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1.一种芯片性能参数检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，所述基于待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数的多项式，包括：
3.根据权利要求2所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，所述基于所述待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数所对应核函数的净运行时长表达式，包括：
4.根据权利要求1所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，在存在至少两个芯片性能参数的情况下，不同芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模不同。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求5所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，所述基于所述芯片性能参数的参数值，对在所述芯片性能参数所对应芯片上运行的算子进行性能评估，包括：
7.一种芯片性能参数检测装置，其特征在于，包括：
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在
9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述芯片性能参数检测方法。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述芯片性能参数检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片性能参数检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，所述基于待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数的多项式，包括：
3.根据权利要求2所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，所述基于所述待检测的芯片性能参数，以及所述芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模，构建所述芯片性能参数所对应核函数的净运行时长表达式，包括：
4.根据权利要求1所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，在存在至少两个芯片性能参数的情况下，不同芯片性能参数所对应核函数在运行时的数据规模不同。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的芯片性能参数检测方法，其特征在于，还包括：
...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海壁仞科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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