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本发明公开了一种基于交流扫频法的红外热成像涂覆层测厚系统及测厚方法，其中测厚系统包括：红外热像仪；位于红外热像仪成像中心位置的待测试件；函数波形发生器，函数波形发生器通过功率放大器与待测试件连接；示波器，示波器通过电流钳分别与待测试件、功率...
该专利属于成都飞机工业（集团）有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都飞机工业（集团）有限责任公司授权不得商用。

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