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本发明公开了一种双电光晶体调制自混合测振系统及方法，该系统包括激光器、第一分光镜、第一电光晶体、第二电光晶体与光电探测器；第一分光镜将激光器的激光分束为测量光与参考光；第一电光晶体、被测目标表面位于测量光的光路上，将测量光的频率调制至的各阶...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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