温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及了一种模拟实际光环境工况下的复杂加工表面扫测装置。所述装置包括机架、遮光板、测量模块、测量导向运动模块、待测量工件、工件导向运动模块、连接架、CMOS相机、激光器、第一Z轴运动模组、直线导轨、底板、第一Z轴连接板、待测工作台、Y轴...
该专利属于浙江师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江师范大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。