下载内容可寻址存储器装置、电路及其存储器自测试方法的技术资料

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一种内容可寻址存储器装置。自测试控制电路产生自测试驱动信号,并控制外部测试模式产生电路产生搜寻数据及地址信号。内容可寻址存储器电路包含:存储器电路、内部测试模式产生电路及内部比较电路。存储器电路从外部测试模式产生电路接收搜寻数据及地址信号以...
该专利属于瑞昱半导体股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过瑞昱半导体股份有限公司授权不得商用。

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