【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于存储器技术，尤其是关于一种内容可寻址存储器装置、内容可寻址存储器电路及其存储器自测试方法。
技术介绍
0、现有技术
1、内容可寻址存储器是一种特殊类型的计算机存储器，在正常操作模式下除了对内储的数据进行读写外，也可根据欲搜寻的数据来对内储的数据进行搜寻产生搜寻结果。
2、内容可寻址存储器需要经由自测试的机制来测试用以产生搜寻结果的匹配线的操作是否正常。然而，在内容可寻址存储器在储存量愈来愈大且制程使组件尺寸愈来愈小的情形下，如果在硬件上没有良好的设计，自测试的相关组件将可能具有过大的面积以及过于复杂的结构。
技术实现思路
1、鉴于先前技术的问题，本专利技术的目的在于提供一种内容可寻址存储器装置、内容可寻址存储器电路及其存储器自测试方法，以改善先前技术。
2、本专利技术包含一种内容可寻址存储器(content addressable memory；cam)电路，包含：存储器电路、内部测试模式产生电路以及内部比较电路。存储器电路配置以接收搜寻...
【技术保护点】
1.一种内容可寻址存储器电路，包含：
2.根据权利要1所述的内容可寻址存储器电路，其中所述内部测试模式产生电路包含多个位移缓存器，所述位移缓存器相串联且具有对应所述匹配线的数目；
3.根据权利要2所述的内容可寻址存储器电路，其中所述位移缓存器配置以在正常操作模式下根据所述重置信号将所述预期匹配信号全部重置为高态或低态，以使所述内部比较电路根据重置的所述预期匹配信号直接输出所述实际匹配信号。
4.根据权利要1所述的内容可寻址存储器电路，其中所述预期匹配信号具有的测试模式为全高态及全低态测试模式、棋盘式测试模式或行进式测试模式。
...【技术特征摘要】
1.一种内容可寻址存储器电路，包含：
2.根据权利要1所述的内容可寻址存储器电路，其中所述内部测试模式产生电路包含多个位移缓存器，所述位移缓存器相串联且具有对应所述匹配线的数目；
3.根据权利要2所述的内容可寻址存储器电路，其中所述位移缓存器配置以在正常操作模式下根据所述重置信号将所述预期匹配信号全部重置为高态或低态，以使所述内部比较电路根据重置的所述预期匹配信号直接输出所述实际匹配信号。
4.根据权利要1所述的内容可寻址存储器电路，其中所述预期匹配信号具有的测试模式为全高态及全低态测试模式、棋盘式测试模式或行进式测试模式。
5.根据权利要1所述的内容可寻址存储器电路，其中所述内部比较电路包含多个逻辑运算门，具有对应所述匹配线的数目，所述逻辑运算门分别接收所述实际匹配信号其中之一以及所述预期匹配信号其中之一，以...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜易豪，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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