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本技术公开了一种集成电路芯片测试用定位装置，包括测试台，所述测试台上设有支撑架，所述支撑架下端设有第一电动推杆，所述第一电动推杆驱动端设有测试模块，所述测试模块一侧与支撑架通过轨道结构滑动连接，所述测试台通过轴承转动连接有转盘，所述测试台上...
该专利属于上海北芯集成电路技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海北芯集成电路技术有限公司授权不得商用。

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